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赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X G2 TEM
)2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG) 适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。 赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X
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Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜
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赛默飞最干净的能谱透射电镜Talos F200S TEM
复合体高分辨率三维结构研究和细胞(细胞器)超微结构三维高分辨率成像。仪器说明: Talos F200C是FEI公司新一代场发射低温透射电镜,配有场发射电子枪;样品台可倾转zei大角度70度; 恒
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赛默飞120 kV透射电镜Talos L120C TEM
规格TEM线分辨率0.204 nm透射电镜点分辨率< 0.37 nm使用 LaB 的 STEM HAADF 分辨率6(nm)≤ 1.0EDS 侧入式,可伸缩冷冻工作时必须缩回。冷冻盒侧入式
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赛默飞 Talos F200C TEM透射电子显微镜
规格透射电镜信息限值0.18透射电镜点分辨率 (nm)0.30STEM分辨率(nm)0.20用于光束敏感材料高对比度成像的 TEM 和 STEM 分析。赛默飞高称度冷冻透射电镜Talos F200C
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透射电镜(TEM)
服务详情透射电镜方法是利用透射电镜对样品的结构和性能进行研究的方法。透射电镜的工作原理与光学透射显微镜相同,只是用电子束替代了光束,用磁聚焦的电子透镜替代了玻璃透镜,而电子成像显示于荧光屏上
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赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM
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Titan Themis TEM透射电镜
200kV(80、120、200kV)· 电子枪单色仪可实现高能量分辨率 EELS 以及更高的空间分辨率,尤其在低 kV HR-S/TEM 下· STEM 和 TEM :Titan Themis
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PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆,TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下,减弱了电子束辐照对样品的损伤,同时也能研究材料的低温结构。PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆
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Metrios TEM透射电镜半导体工业
useful data. FEI's Metrios TEM automates the basic TEM operation and measurement procedures
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